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fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀 有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當打開防護罩時，該平臺會自動移到裝載位置。

FISCHERSCOPE XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀 是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結構緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。

X射線熒光鍍層測厚儀helmut-fischer xan500 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進行材料分析。

德國菲希爾鍍層測厚儀xdv-μ-pcb XDV-μ型系列儀器是專為在很微小結構上進行高精度鍍層厚度測星和材料分析而設計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡, 光斑直徑（ FWHM ）可達10至60μm。

菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 是一款高性能的能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）鍍層測厚及材料分析儀，專為工業(yè)質量控制、材料成分分析和溶液檢測設計。

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FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是德國 Helmut Fischer 公司生產的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，專為自動化和高精度測量設計，適用于各類鍍層厚度測量和材料成分分析。

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菲希爾 XULM240 是一款緊湊、高精度、多功能的 X 射線熒光 (XRF) 鍍層測厚與材料分析儀器，專為微小零件和精細結構的無損檢測設計，廣泛應用于電子、電鍍、汽車等行業(yè)的質量控制與生產監(jiān)控。

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菲希爾X射線測厚儀XDL230 FISCHER代理，FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230 是德國菲希爾 (Helmut Fischer) 公司推出的一款能量色散型 X 射線熒光 (EDXRF) 鍍層測厚及材料分析系統(tǒng)，專為工業(yè)質量控制、來料檢驗和生產監(jiān)控設計，采用從上往下的測量方向，便于分析形狀不規(guī)則的樣品。

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菲希爾FISCHER X射線XULM240，基于 X 射線熒光光譜技術，X 射線激發(fā)樣品鍍層產生特征熒光，通過檢測熒光強度結合基本參數法（FP 法） 計算鍍層厚度 / 元素成分；全程無損、無需破壞樣品。主打微聚焦測量，特別適合電子接插件、PCB、珠寶鐘表、精密電鍍件等微小結構的檢測。

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