菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230的詳細資料：

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XDL230

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230核心功能與亮點

DCM 測量距離補償技術：支持 0~80mm 遠距離對焦，輕松應對腔體內部或復雜形狀樣品（如深孔、凹槽）的測量需求

多鍍層結構分析：可測量單層、多層及復合鍍層（如 Au/Ni/Cu/Fe、Sn/Pb、Cr/Ni/Cu 等），同時獲取各層厚度與成分信息

WinFTM® 專業軟件：提供直觀操作界面、數據管理、統計分析、報告生成等功能，支持多種測量模式與校準方法Helmut Fischer

高靈活性設計：

手動 XY 工作臺便于快速定位單個或多個樣品

寬大樣品也可進行測量，增強通用性

可更換準直器與濾光片系統，適配不同應用場景

安全防護：配備安全聯鎖裝置，保護門開啟時自動切斷 X 射線，符合國際輻射安全標準

典型應用領域

電子行業：印刷電路板 (PCB) 鍍層測量（如金、鎳、銅、錫等）、連接器鍍層質量控制

電鍍工業：裝飾性鍍層（如鉻、鎳、銅）與功能性鍍層（如硬鉻、化學鎳）的厚度監控

汽車與航空航天：零部件防護鍍層（如鋅、鎘、錫）測量，確保耐腐蝕性與使用壽命

精密制造：小型精密零件、模具表面鍍層測量，最小可測量直徑 0.3mm 樣品

材料分析：合金成分定性定量分析、金屬材料中有害元素檢測

質量控制：進料檢驗、過程控制、成品檢測的全流程質量保證