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產(chǎn)品分類

哈納代理
- COD測定儀
- 哈納電導(dǎo)率儀/電阻率儀
- 多參數(shù)水質(zhì)測定儀
- 哈納ph計(jì)/酸度計(jì)
- 哈納代理
- 哈納可見光光度計(jì)
- 哈納酸度測定儀
- 哈納氟化物濃度測定儀
- 哈納磁力攪拌器
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- 哈納鹽度標(biāo)準(zhǔn)緩沖液
- 哈納鹽度計(jì)
- 光度計(jì)
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- 哈納水質(zhì)分析儀
哈希代理
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- 哈希代理
- 水質(zhì)毒性分析儀
- 水質(zhì)分析儀
杭州思看
- 三維掃描儀
- 掃描儀
英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
- 自準(zhǔn)直儀
- 圓度儀
- 輪廓儀
- Surtronic 25
- 泰勒經(jīng)銷商
- Surtronic DUO
- 泰勒經(jīng)銷商粗糙度儀
- 粗糙度儀
- Surtronic S116
德國Fischer菲希爾
- 孔隙率測試儀
- x射線鍍層測厚儀
- 菲希爾
- 致密性測試儀
- 電解測厚儀
- 探頭
- 電導(dǎo)率儀
- 庫侖測厚儀
- 超聲波測厚儀
- 鐵素體含量測定儀
- MP0測厚儀
- 菲希爾測厚儀
- 測厚儀
- 菲希爾代理
德國Sensopart森薩帕特
- 激光測距傳感器
- 電感傳感器
- 槽型傳感器
- 光纖傳感器
- 對(duì)比度傳感器
- 顏色傳感器
- 熒光傳感器
- 測距傳感器
- 視覺傳感器
- 電容式傳感器
- 光電傳感器
- 超聲波傳感器
- 激光位移傳感器
德國Elektrophysik EPK
- 針孔探測器
- 渦流測厚儀
- 涂鍍層測厚儀
- 超聲波測厚儀
- 霍爾效應(yīng)測厚儀
- 庫倫法測厚儀
- 測厚儀配件
德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
- W5
- 霍梅爾粗糙度儀
- W10
- Hommel代理
- Hommel粗糙度儀
- 粗糙度儀
德國BYK
- 桔皮儀
- 濕膜輪測厚儀
- 劃格器
- 干膜測厚儀
- BYK光澤度儀
德國馬爾 Mahr
- 馬爾薄膜測厚儀
- 機(jī)械比較儀
- 測高儀
- PocketSurf
- 粗糙度儀
- 馬爾粗糙度儀
- MarSurf PS1
- Perthometer M1
- MarSurf M300C
德國尼克斯QNix
- 測厚儀
- QNix 1500測厚儀
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- QNix 8500測厚儀
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- 尼克斯涂層測厚儀
- QNix測厚儀
- 德國尼克斯測厚儀
德國馬爾Mahr
- 粗糙度儀
- 薄膜測厚儀
- 測高儀
- 千分尺
- MarSurf M400/PocketSurf
- 粗糙度儀配件
- MarSurf M300/300C
- Perthometer M1/M2/S2粗糙度儀
- MARSURF PS1/PS10粗糙度儀
美國SDI
- 車窗防夾力測試儀
美國FLIR
- 紅外測溫儀
- 紅外熱像儀
美國Mark-10
- 瓶蓋扭力計(jì)
- Mark-10測力計(jì)
美國狄夫斯高 Defelsko
- 露點(diǎn)儀
- 粗糙度儀
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美國GE
- 測厚儀探頭
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- 超聲波硬度計(jì)
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- Krautkramer USM 36
- 美國GE測厚儀
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- 點(diǎn)焊縫超聲波探傷儀
- 硬度計(jì)
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美國福祿克Fluke
- 激光測距儀
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- 紅外熱像儀
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美國API
- api激光跟蹤儀
- 美國API激光干涉儀
英國易高Elcometer
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- 粗糙度儀
- 超聲波測厚儀
- 易高干膜測厚儀
日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
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- 亮度計(jì)
- 色度儀
- 照度計(jì)
- 測色儀
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日本三豐Mitutoyo
- 千分尺
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- 三豐便攜式粗糙度儀
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- SJ-410
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- 粗糙度儀
瑞士TESA
- 千分尺
- 高度計(jì)/測高儀
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瑞士TRIMOS
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瑞士博勢 Proceq
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香港嘉儀CanNeed
- 壁厚測厚儀
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弗勞恩霍夫
- 感應(yīng)淬火層測厚儀

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菲希爾、X射線測厚儀FISCHER XAN500信息

點(diǎn)擊次數(shù)：125 更新時(shí)間：2026-01-13

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500雙功能一體化測量

單次測量同時(shí)獲取涂層厚度與材料成分?jǐn)?shù)據(jù)，無需重復(fù)操作

支持多層涂層(如 ZnNi/Cu/Ni/Cr) 與合金涂層(如鋅鎳合金) 的精確分析

采用菲希爾基本參數(shù)法 (FP 法)，可在無需校準(zhǔn)標(biāo)樣的情況下分析固、液態(tài)樣品

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500高精度測量系統(tǒng)

高分辨率硅漂移檢測器 (SDD)，提供分析精度與探測靈敏度，尤其適合超薄鍍層測量

3 點(diǎn)支撐設(shè)計(jì)，確保每次測量時(shí)位置準(zhǔn)確、儀器穩(wěn)定，提升重復(fù)性精度

測量點(diǎn)直徑3 毫米，適合小面積樣品檢測

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