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MPOR測厚儀雙測量原理信息
點擊次數(shù)：340 更新時間：2025-09-05
磁感應法（適用于鐵基材料）：當 MPOR 測厚儀靠近鐵基材料表面的涂層時，儀器內(nèi)部的磁芯會產(chǎn)生磁場，該磁場穿過涂層與鐵基材料相互作用。由于涂層的存在，磁場的強度和分布會發(fā)生改變，儀器通過檢測這種磁場變化，依據(jù)磁感應原理并結合內(nèi)置算法，精確計算出涂層的厚度。這種測量方法符合 DIN EN ISO 2178、ASTM D7091 等標準，特別適用于測量鋼鐵上較薄的涂層。
電渦流法（適用于非鐵基材料）：對于非鐵基材料上的涂層測量，MPOR 測厚儀利用電渦流原理。儀器產(chǎn)生高頻交變磁場，當該磁場靠近非鐵基材料表面的涂層時，會在涂層和基材中產(chǎn)生電渦流。電渦流的大小與涂層厚度以及基材的電導率等因素有關，儀器通過檢測電渦流的變化，經(jīng)過復雜運算得出涂層的準確厚度，該方法符合 DIN EN ISO 2360 標準。
